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| 装置の原理 |
物質に波長の決まった特性X線を照射すると，X線と物質との相互作用により回折（散乱）X線が放出されます。この回折X線は物質内の原子 の配置に 関する情報を含んでいるため，回折X線の方向と強度を解析することによって物質内の原子配置に関する情報を引き出すことができます。また，回 折X線の方向 と強度の情報を既存のデータファイルと比較することによって物質の同定も可能です。
| 操作方法と利用範囲 |
本装置では，粉末状の物質だけでなく液体物質についてもその回折X線のプロファイルを測定できます。また，アタッチメントを用いることに より高温 での測定も可能です。本装置には，測定・解析のためのコンピュータが接続され，コンピュータ端末から測定の制御が行え，測定したデータの解析 も同じコン ピュータ上で行えます。本装置は結晶性物質の同定，格子定数，結晶構造のみならず，液体・ガラスなどの非結晶物質の構造解析にも応用できま す。
| 申し込み窓口 |
（管理責任者）奥野 正幸 理工研究域地球社会基盤学系 076-264-6511
| 申し込み及び利用の仕方 |
本装置の利用するには，所属部局へのエックス線使用申請をした上で、教育研究用エックス線安全取り扱い講習会を受講し、フィルムバッジを
装着していなければなりません。また，単独での使用希望者は随時行う講習会を受けて下さ
い。利用希望者は装置の管理責任者に連絡し，使用予定を決定してもらったうえで利用できます。
利用可能時間は、平日9:00〜17:00。装置設置場所は、自然科学２号館2B115号室。
| 使用料金 |
利用1時間につき375円（１ヶ月単位で集計し、1時間未満は切り上げ）。（紙代、トナー代などはこれに含める）